2025年11月22日，第十五屆全國顆粒測試學術會議在廣東佛山盛大啟幕。本次會議由中國顆粒學會顆粒測試專業(yè)委員會與北京粉體技術協(xié)會聯(lián)合主辦，恰逢專委會成立四十周年，以顆粒測試新方法、新技術的創(chuàng)新應用與發(fā)展動態(tài)為核心議題，系統(tǒng)總結四十年行業(yè)理論與技術成果，同期發(fā)布的《中國顆粒測試40年》合集，更以近十年技術突破與儀器國產化成就為亮點，為行業(yè)留存珍貴發(fā)展檔案。澳譜特科技（上海）有限公司攜核心產品與前沿技術亮相，憑借自主創(chuàng)新實力成為展會焦點。

作為深耕顆粒表征技術十余年的專業(yè)制造商，澳譜特科技在展會現(xiàn)場重點展示了納米粒度及Zeta電位分析儀和動態(tài)圖像粒度粒形分析儀兩大核心產品。其中納米粒度及Zeta電位分析儀采用多角度動態(tài)光散射技術，配合高靈敏度探測器，可實現(xiàn)納米級顆粒粒徑的精準測量，測量結果穩(wěn)定可靠；動態(tài)圖像粒度粒形分析儀則能同步完成顆粒大小與形態(tài)的可視化分析，憑借廣泛的適用性為工業(yè)生產與科研實驗提供數據支撐。兩款產品的技術優(yōu)勢與多元應用價值，吸引了眾多參會嘉賓、科研人員及企業(yè)代表駐足咨詢、深度交流。

此外，澳譜特科技應用工程師還做了題為《電泳光散射法Zeta電位測量及操作指南》的報告。報告介紹了自研的U形毛細管樣品池：“U形毛細管樣品池，由于樣品池底部（測量點）是水平的，從而獲得了比傳統(tǒng)的半圓形毛細管樣品池更加均勻的電場，進而提高了Zeta電位的測量精度與重復性"，配合樣品池結構示意圖、電場分布仿真圖等可視化材料，直觀呈現(xiàn)了該技術的創(chuàng)新點與優(yōu)勢，引發(fā)現(xiàn)場熱烈關注。報告還立足電泳光散射核心原理，結合公司在Zeta電位分析領域的研發(fā)積累，詳細解析了測量關鍵操作要點、常見問題解決方案及數據精準度提升技巧，特別分享了澳譜特Zeta電位分析儀在分散體系穩(wěn)定性評估中的實踐應用，為現(xiàn)場觀眾提供了兼具理論分析與實操價值的專業(yè)參考，贏得行業(yè)同仁廣泛認可。

在頒獎環(huán)節(jié)，澳譜特科技（上海）有限公司獲得了“突出貢獻企業(yè)"獎。

此次參展，既是澳譜特科技對自身技術成果的一次集中檢閱，也是參與行業(yè)交流、共謀發(fā)展的重要契機。作為擁有自主知識產權的顆粒測試設備生產商，澳譜特科技始終秉承“品質源于專業(yè)"的理念，持續(xù)深耕核心技術研發(fā)。未來，公司將繼續(xù)聚焦顆粒測試技術的突破與迭代，不斷優(yōu)化產品性能與應用解決方案，為推動我國顆粒測試儀器國產化進程、助力行業(yè)高質量發(fā)展注入更多創(chuàng)新力量。